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出版社名：日刊工業新聞社
出版年月：2025年9月
ISBN：978-4-526-08407-2
２５３Ｐ ２１ｃｍ
実践！電子機器・部品の信頼性評価・解析ガイドブック Ｐａｒｔ４/電子回路の品質作り込みとノイズ・熱トラブル解決への道筋
/沖エンジニアリング株式会社／編 今井康雄／著 多田雅則／著 芥正二郎／著
組合員価格 税込
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円
(通常価格 税込 3,960円)
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内容紹介・もくじなど
もくじ情報：第１章 商品開発ステップ毎の製品品質の作り込み（トータル品質作りの実現手順；仕様 ほか）；第２章 効果的な品質評価試験方法（様々な評価方法；部品情報の把握 ほか）；第３章 深刻な誤動作や故障の発生原因と対策（熱対策；電子回路ノイズと対策 ほか）；第４章 品質評価の相談と障害対策事例（エレベーター制御基板のＥＯＬ対応；屋外設置製品の提案と耐久性評価 ほか）；付録（第２章の補項目）（ＳｉＣ ＭＯＳＦＥＴのＡＣ‐ＢＴＩ試験）
もくじ情報：第１章 商品開発ステップ毎の製品品質の作り込み（トータル品質作りの実現手順；仕様 ほか）；第２章 効果的な品質評価試験方法（様々な評価方法；部品情報の把握 ほか）；第３章 深刻な誤動作や故障の発生原因と対策（熱対策；電子回路ノイズと対策 ほか）；第４章 品質評価の相談と障害対策事例（エレベーター制御基板のＥＯＬ対応；屋外設置製品の提案と耐久性評価 ほか）；付録（第２章の補項目）（ＳｉＣ ＭＯＳＦＥＴのＡＣ‐ＢＴＩ試験）
著者プロフィール
今井 康雄(イマイ ヤスオ)
１９７８年に沖エンジニアリング株式会社 入社。２０２１年取締役を退任、シニアアドバイザーとなり、現在に至る。２０１０年度日本信頼性学会 優秀記事コラム賞「電子デバイス・モジュールの最新評価技術」。２０１４年度日本信頼性学会 優秀論文賞「不揮発性メモリの信頼性評価」
今井 康雄(イマイ ヤスオ)
１９７８年に沖エンジニアリング株式会社 入社。２０２１年取締役を退任、シニアアドバイザーとなり、現在に至る。２０１０年度日本信頼性学会 優秀記事コラム賞「電子デバイス・モジュールの最新評価技術」。２０１４年度日本信頼性学会 優秀論文賞「不揮発性メモリの信頼性評価」
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沖エンジニアリング株式会社／編 今井康雄／監修 味岡恒夫／監修
１９７８年に沖エンジニアリング株式会社 入社。２０２１年取締役を退任、シニアアドバイザーとなり、現在に至る。２０１０年度日本信頼性学会 優秀記事コラム賞「電子デバイス・モジュールの最新評価技術」。２０１４年度日本信頼性学会 優秀論文賞「不揮発性メモリの信頼性評価」
１９７８年に沖エンジニアリング株式会社 入社。２０２１年取締役を退任、シニアアドバイザーとなり、現在に至る。２０１０年度日本信頼性学会 優秀記事コラム賞「電子デバイス・モジュールの最新評価技術」。２０１４年度日本信頼性学会 優秀論文賞「不揮発性メモリの信頼性評価」