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本 > 工学 > 経営工学 > 品質管理（ＱＣ等）標準規格（ＪＩＳ等）
出版社名：日科技連出版社
出版年月：2010年10月
ISBN：978-4-8171-9363-6
１８３Ｐ　２１ｃｍ
ＬＳＩの信頼性/信頼性技術叢書
二川清／編著　塩野登／著　横川慎二／著　福田保裕／著　三井泰裕／著
 
組合員価格 税込 3,135円
(通常価格 税込 3,300円)
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内容紹介・もくじなど
もくじ情報：第１章　ＬＳＩ信頼性保証概論；第２章　トランジスタ系の信頼性；第３章　ＬＳＩ配線の信頼性；第４章　静電気破壊現象；第５章　故障解析；第６章　寿命データ解析
もくじ情報：第１章　ＬＳＩ信頼性保証概論；第２章　トランジスタ系の信頼性；第３章　ＬＳＩ配線の信頼性；第４章　静電気破壊現象；第５章　故障解析；第６章　寿命データ解析
著者プロフィール
二川　清(ニカワ　キヨシ)
１９４９年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。工学博士。１９７４年‐２００９年、日本電気（株）他にて半導体の信頼性・故障解析技術の研究開発と実務に従事。現在、大阪大学大学院情報科学研究科特任教授、金沢工業大学大学院工学研究科客員教授、芝浦工業大学工学部非常勤講師
二川　清(ニカワ　キヨシ)
１９４９年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。工学博士。１９７４年‐２００９年、日本電気（株）他にて半導体の信頼性・故障解析技術の研究開発と実務に従事。現在、大阪大学大学院情報科学研究科特任教授、金沢工業大学大学院工学研究科客員教授、芝浦工業大学工学部非常勤講師

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