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本 > 理学 > 化学 > 分析化学

出版社名：共立出版
出版年月：2011年8月
ISBN：978-4-320-04391-6
１８２Ｐ　２１ｃｍ

表面分析/分析化学実技シリーズ　応用分析編　１

石田英之／著　吉川正信／著　中川善嗣／著　宮田洋明／著　加連明也／著　萬尚樹／著

組合員価格税込 3,031円
(通常価格税込 3,190円)
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内容紹介・もくじなど

もくじ情報：１　表面分析序論（表面分析の目的・背景；表面分析の手法　ほか）；２　赤外・ラマン分光法（赤外分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴；ラマン分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴　ほか）；３　Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ、ＥＳＣＡ）（ＸＰＳの原理と特徴；ＸＰＳ装置　ほか）；４　二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ）（ＳＩＭＳの原理と特徴；ＳＩＭＳの装置　ほか）；５　番行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳ；Ｓｔａｔｉｃ　ＳＩＭＳ）（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの原理と特徴；ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの装置　ほか）；付録　主な元素の化学シフト

著者プロフィール

石田　英之(イシダ　ヒデユキ)
１９７２年大阪大学大学院基礎工学研究科化学系博士課程修了・工学博士。現在、大阪大学特任教授（元（株）東レリサーチセンター代表取締役副社長）。専門は物理化学、分子分光