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本 > 工学 > 電気電子工学 > 計測・制御
出版社名：日刊工業新聞社
出版年月：2016年3月
ISBN：978-4-526-07556-8
１３４Ｐ　２１ｃｍ
明日使える光計測の基礎
東京都立産業技術研究センター／編
 
組合員価格 税込 1,777円
(通常価格 税込 1,870円)
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内容紹介・もくじなど
はじめて「光」に関する計測技術を学ぶ方にもよくわかる入門書！
もくじ情報：第１章　知っておきたい光と熱の基礎（光の発生原理；光が物に当たったときの振る舞い；熱放射を理解するための諸法則；身の回りにある熱放射）；第２章　光と熱を利用した技術と製品（光放射を利用した技術と製品；赤外放射加熱を利用した製品と技術；光を透過・反射・吸収する製品；熱を通す・反射・吸収する製品；光センサ；熱センサ）；第３章　材料・製品の光学特性の測定の実際（紫外から近赤外域の透過率・反射率の測定；赤外域の分光透過率・分光反射率測定；物体の質感を評価するＢＲＤＦ；赤外放射測定；放射計による放射照度の測定；サーモグラフィによる…（続く）
はじめて「光」に関する計測技術を学ぶ方にもよくわかる入門書！
もくじ情報：第１章　知っておきたい光と熱の基礎（光の発生原理；光が物に当たったときの振る舞い；熱放射を理解するための諸法則；身の回りにある熱放射）；第２章　光と熱を利用した技術と製品（光放射を利用した技術と製品；赤外放射加熱を利用した製品と技術；光を透過・反射・吸収する製品；熱を通す・反射・吸収する製品；光センサ；熱センサ）；第３章　材料・製品の光学特性の測定の実際（紫外から近赤外域の透過率・反射率の測定；赤外域の分光透過率・分光反射率測定；物体の質感を評価するＢＲＤＦ；赤外放射測定；放射計による放射照度の測定；サーモグラフィによる温度分布の測定；光による断層画像の観察；二次元複屈折計測；分光エリプソメータを用いた薄膜の解析）

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