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内容紹介・もくじなど
著者プロフィール
木村 忠正(キムラ タダマサ)
1943年生まれ。1970年、東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻博士課程修了、工学博士(東京大学)。1970年~2009年、電気通信大学専任講師、助教授、教授、理事(兼副学長)、電気通信大学名誉教授。2010年~2016年、科学技術振興機構プログラム主管。オプトエレクトロニクス、CVDダイヤモンド、シリコンフォトニクス、半導体故障物理などの研究に従事 木村 忠正(キムラ タダマサ)
1943年生まれ。1970年、東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻博士課程修了、工学博士(東京大学)。1970年~2009年、電気通信大学専任講師、助教授、教授、理事(兼副学長)、電気通信大学名誉教授。2010年~2016年、科学技術振興機構プログラム主管。オプトエレクトロニクス、CVDダイヤモンド、シリコンフォトニクス、半導体故障物理などの研究に従事 |
もくじ情報:これからの技術課題に…(続く)
もくじ情報:これからの技術課題に立ち向かう信頼性物理;第1部 信頼性の基礎と物理的信頼性検証技術(信頼性の基礎;信頼性工学体系と妥当性検証技術;物理的信頼性検証技術);第2部 故障に至る代表的な因子(信頼性物理に基づく信頼性創り込み;温度;湿度;応力);第3部 故障メカニズムを説明する物理的・化学的反応(故障メカニズム解明に対する故障解析と信頼性試験の役割;表面・界面の特性と拡散による断線・劣化現象;化学的酸化・腐食による劣化現象;電気的絶縁破壊現象;機械的ストレスによる裁断・摩耗・劣化現象;複合環境による故障メカニズム);まとめと今後必要となる物理的検証技術