もくじ情報：第１部　残留応力の基礎（応力とひずみ；残留応力の発生・評価・制御；残留応力と強度評価）；第２部　Ｘ線応力測定の基礎（結晶材料；Ｘ線と回折；多結晶のＸ線応力測定；Ｘ線応力測定の実際）；第３部　Ｘ線応力測定法の応用（シンクロトロン放射光による応力測定；中性子回折による応力測定；多相材料・複合材料の応力評価；表面改質・コーティングの応力評価；薄膜の応力評価；接合・溶接材の残留応力評価）；第４部　結晶弾性のマイクロメカニックス（単結晶の弾性変形；単結晶のＸ線応力測定；多結晶・多相材料の回析弾性定数；繊維配向を有する立法晶多結晶薄膜のＸ線応力測定）；付録

田中　啓介(タナカ　ケイスケ)
１９４３年兵庫県生まれ。１９６６年京都大学工学部機械第２学科卒業。１９７１年京都大学大学院博士課程単位取得退学、京都大学工学部助手。１９７２年工学博士、京都大学。１９８３年京都大学工学部助教授。１９９１年名古屋大学工学部教授。１９９７年名古屋大学大学院工学研究科教授