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出版社名:日科技連出版社
出版年月:2010年10月
ISBN:978-4-8171-9363-6
183P 21cm
LSIの信頼性/信頼性技術叢書
二川清/編著 塩野登/著 横川慎二/著 福田保裕/著 三井泰裕/著
組合員価格 税込 2,970
(通常価格 税込 3,300円)
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内容紹介・もくじなど
もくじ情報:第1章 LSI信頼性保証概論;第2章 トランジスタ系の信頼性;第3章 LSI配線の信頼性;第4章 静電気破壊現象;第5章 故障解析;第6章 寿命データ解析
もくじ情報:第1章 LSI信頼性保証概論;第2章 トランジスタ系の信頼性;第3章 LSI配線の信頼性;第4章 静電気破壊現象;第5章 故障解析;第6章 寿命データ解析
著者プロフィール
二川 清(ニカワ キヨシ)
1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。工学博士。1974年‐2009年、日本電気(株)他にて半導体の信頼性・故障解析技術の研究開発と実務に従事。現在、大阪大学大学院情報科学研究科特任教授、金沢工業大学大学院工学研究科客員教授、芝浦工業大学工学部非常勤講師
二川 清(ニカワ キヨシ)
1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。工学博士。1974年‐2009年、日本電気(株)他にて半導体の信頼性・故障解析技術の研究開発と実務に従事。現在、大阪大学大学院情報科学研究科特任教授、金沢工業大学大学院工学研究科客員教授、芝浦工業大学工学部非常勤講師