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出版社名:日科技連出版社
出版年月:2009年11月
ISBN:978-4-8171-9326-1
250P 21cm
信頼性データ解析/信頼性技術叢書
鈴木和幸/編著 益田昭彦/著 石田勉/著 横川慎二/著
組合員価格 税込
3,960
円
(通常価格 税込 4,400円)
割引率 10%
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信頼性の作り込みにおいて基本となる信頼性データの収集と解析方法を、近年の研究成果と併せて解説。
信頼性の作り込みにおいて基本となる信頼性データの収集と解析方法を、近年の研究成果と併せて解説。
内容紹介・もくじなど
信頼性の作り込みにおいて最も基本となる信頼性データの収集と解析方法を、近年の研究成果と併せて解説。
もくじ情報:序章 信頼性データ解析の必要性と近年の動向;第1章 信頼性データの集め方とデータベースの活用;第2章 信頼性データのまとめ方;第3章 信頼性データ解析の基礎;第4章 確率プロットによる寿命データの解析;第5章 信頼性データの特徴とその解析;第6章 信頼性試験と寿命データ解析;第7章 フィールド寿命データの解析;第8章 故障物理に基づく信頼性データ解析
信頼性の作り込みにおいて最も基本となる信頼性データの収集と解析方法を、近年の研究成果と併せて解説。
もくじ情報:序章 信頼性データ解析の必要性と近年の動向;第1章 信頼性データの集め方とデータベースの活用;第2章 信頼性データのまとめ方;第3章 信頼性データ解析の基礎;第4章 確率プロットによる寿命データの解析;第5章 信頼性データの特徴とその解析;第6章 信頼性試験と寿命データ解析;第7章 フィールド寿命データの解析;第8章 故障物理に基づく信頼性データ解析
著者プロフィール
鈴木 和幸(スズキ カズユキ)
1950年生まれ。東京工業大学大学院博士課程修了。現在、電気通信大学システム工学科、同大学大学院情報システム学研究科教授、工学博士。Wilcoxon Award(米国品質学会、米国統計学会、1999年)
鈴木 和幸(スズキ カズユキ)
1950年生まれ。東京工業大学大学院博士課程修了。現在、電気通信大学システム工学科、同大学大学院情報システム学研究科教授、工学博士。Wilcoxon Award(米国品質学会、米国統計学会、1999年)
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もくじ情報:序章 信頼性データ解析の必要性と近年の動向;第1章 信頼性データの集め方とデータベースの活用;第2章 信頼性データのまとめ方;第3章 信頼性データ解析の基礎;第4章 確率プロットによる寿命データの解析;第5章 信頼性データの特徴とその解析;第6章 信頼性試験と寿命データ解析;第7章 フィールド寿命データの解析;第8章 故障物理に基づく信頼性データ解析
もくじ情報:序章 信頼性データ解析の必要性と近年の動向;第1章 信頼性データの集め方とデータベースの活用;第2章 信頼性データのまとめ方;第3章 信頼性データ解析の基礎;第4章 確率プロットによる寿命データの解析;第5章 信頼性データの特徴とその解析;第6章 信頼性試験と寿命データ解析;第7章 フィールド寿命データの解析;第8章 故障物理に基づく信頼性データ解析
1950年生まれ。東京工業大学大学院博士課程修了。現在、電気通信大学システム工学科、同大学大学院情報システム学研究科教授、工学博士。Wilcoxon Award(米国品質学会、米国統計学会、1999年)
1950年生まれ。東京工業大学大学院博士課程修了。現在、電気通信大学システム工学科、同大学大学院情報システム学研究科教授、工学博士。Wilcoxon Award(米国品質学会、米国統計学会、1999年)