世の中の市場や工程で発生した故障の事例は膨大で、一人の技術者もしくは組織として多くの知識を保有し、再発・未然防止に活用するのは困難です。本書は、この大きな課題に対する対応策の一つとして、「信頼性物理ベースでのアプローチ」が有効であるとの考えから執筆されたものです。「信頼性物理」を支えるベースとして、特に、物理的故障解析、信頼性試験、統計的データ解析の解説が充実しており、信頼性技術者にとって有益な信頼性に関する幅広い内容が含まれています。さまざまな環境が激変する現在、信頼性技術を見つめ直し、あらゆる業界・製品・技術分野に対応できる技術者になるための必読の書です。
もくじ情報：これからの技術課題に立ち向かう信頼性物理；第１部　信頼性の基礎と物理的信頼性検証技術（信頼性の基礎；信頼性工学体系と妥当性検証技術；物理的信頼性検証技術）；第２部　故障に至る代表的な因子（信頼性物理に基づく信頼性創り込み；温度；湿度；応力）；第３部　故障メカニズムを説明する物理的・化学的反応（故障メカニズム解明に対する故障解析と信頼性試験の役割；表面・界面の特性と拡散による断線・劣化現象；化学的酸化・腐食による劣化現象；電気的絶縁破壊現象；機械的ストレスによる裁断・摩耗・劣化現象；複合環境による故障メカニズム）；まとめと今後必要となる物理的検証技術

木村　忠正(キムラ　タダマサ)
１９４３年生まれ。１９７０年、東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻博士課程修了、工学博士（東京大学）。１９７０年～２００９年、電気通信大学専任講師、助教授、教授、理事（兼副学長）、電気通信大学名誉教授。２０１０年～２０１６年、科学技術振興機構プログラム主管。オプトエレクトロニクス、ＣＶＤダイヤモンド、シリコンフォトニクス、半導体故障物理などの研究に従事