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出版社名:講談社
出版年月:2017年7月
ISBN:978-4-06-153295-3
341P 21cm
XAFSの基礎と応用
日本XAFS研究会/編
組合員価格 税込
4,554
円
(通常価格 税込 5,060円)
割引率 10%
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XAFSの理論・解析法から、放射光を利用した測定系や時間・空間分解測定、全反射測定、高圧下での測定、その場測定、界面や生体試料を対象とした測定などまで詳細に解説。本書を読めばデータが正しく解釈できる。
XAFSの理論・解析法から、放射光を利用した測定系や時間・空間分解測定、全反射測定、高圧下での測定、その場測定、界面や生体試料を対象とした測定などまで詳細に解説。本書を読めばデータが正しく解釈できる。
内容紹介・もくじなど
もくじ情報:第1章 序論(物質と電磁波の相互作用;X線吸収分光の歴史);第2章 XAFSの理論(一回散乱EXAFS;多重散乱理論 ほか);第3章 XAFSの解析(EXAFSの解析;REXを用いたXAFS解析 ほか);第4章 XAFS実験(放射光光源;ビームライン光学系 ほか);第5章 関連手法(軟X線磁気円二色性、線二色性;硬X線磁気円二色性 ほか)
もくじ情報:第1章 序論(物質と電磁波の相互作用;X線吸収分光の歴史);第2章 XAFSの理論(一回散乱EXAFS;多重散乱理論 ほか);第3章 XAFSの解析(EXAFSの解析;REXを用いたXAFS解析 ほか);第4章 XAFS実験(放射光光源;ビームライン光学系 ほか);第5章 関連手法(軟X線磁気円二色性、線二色性;硬X線磁気円二色性 ほか)
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