ようこそ!
マイページ
ご利用ガイド
組合員情報の変更
メールアドレスの変更
ログイン
サイトトップ
e
フレンズトップ
すべて
本
雑誌
CD
DVD・Blu-ray
クリア
本 こだわり検索
書名
著者名
商品説明
出版社名
出版年月
―
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
1995
1994
1993
1992
1991
1990
1989
1988
1987
1986
1985
1984
1983
1982
年
―
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
月
以前
のみ
以降
ジャンル
選択してください
文庫
新書・選書
文芸
教養
人文
教育
芸術
児童
趣味
生活
地図・ガイド
就職・資格
語学
小学学参
中学学参
高校学参
辞典
コミック
ゲーム攻略本
エンターテイメント
日記手帳
社会
法律
経済
経営
ビジネス
理学
工学
コンピュータ
医学
看護学
薬学
ISBNコード
予約商品を表示しない
検索
クリア
本 >
理学
>
化学
>
化学一般
出版社名:講談社
出版年月:2022年3月
ISBN:978-4-06-526126-2
293P 21cm
固体表面キャラクタリゼーション 機能性材料・ナノマテリアルのためのスペクトロスコピー
山下弘巳/編著 吉田寿雄/編著 田中庸裕/編著
組合員価格 税込
3,762
円
(通常価格 税込 4,180円)
割引率 10%
在庫あり
生協宅配にてお届け
※ご注文が集中した場合、お届けが遅れる場合がございます。
内容紹介・もくじなど
内容紹介:『固体表面キャラクタリゼーションの実際』の改題改訂版。好評であった旧版のコンセプトはそのままに、新しい分析法や実例を追加。
もくじ情報:総論:固体表面のキャラクタリゼーション;X線回折法(XRD);X線吸収微細構造(XAFS);光電子分光法(XPS、UPS);紫外可視分光法(UV‐vis)・光ルミネセンス分光法(PLS);赤外分光法(IR)・ラマン分光法・近赤外分光法(NIR);電子スピン共鳴分光法(ESR);核磁気共鳴分光法(NMR);電子顕微鏡(SEM、TEM、STEM);走査型プローブ顕微鏡(STM、AFM);二次イオン質量分析;組成分析;吸着・脱着;昇温法(TG,DTA,TP…(
続く
)
内容紹介:『固体表面キャラクタリゼーションの実際』の改題改訂版。好評であった旧版のコンセプトはそのままに、新しい分析法や実例を追加。
もくじ情報:総論:固体表面のキャラクタリゼーション;X線回折法(XRD);X線吸収微細構造(XAFS);光電子分光法(XPS、UPS);紫外可視分光法(UV‐vis)・光ルミネセンス分光法(PLS);赤外分光法(IR)・ラマン分光法・近赤外分光法(NIR);電子スピン共鳴分光法(ESR);核磁気共鳴分光法(NMR);電子顕微鏡(SEM、TEM、STEM);走査型プローブ顕微鏡(STM、AFM);二次イオン質量分析;組成分析;吸着・脱着;昇温法(TG,DTA,TPD,TPR);電気化学測定;ケーススタディ
著者プロフィール
山下 弘巳(ヤマシタ ヒロミ)
博士(工学)。大阪大学大学院工学研究科マテリアル生産科学専攻教授。1987年京都大学大学院工学研究科石油化学専攻博士課程修了。東北大学非水溶液化学研究所・反応化学研究所助手、大阪府立大学大学院工学研究科助教授を経て、現職
山下 弘巳(ヤマシタ ヒロミ)
博士(工学)。大阪大学大学院工学研究科マテリアル生産科学専攻教授。1987年京都大学大学院工学研究科石油化学専攻博士課程修了。東北大学非水溶液化学研究所・反応化学研究所助手、大阪府立大学大学院工学研究科助教授を経て、現職
同じ著者名で検索した本
触媒化学 基礎から応用まで/エキスパート応用化学テキストシリーズ
田中庸裕/編著 山下弘巳/編著 薩摩篤/著 町田正人/著 宍戸哲也/著 神戸宣明/著 岩崎孝紀/著 江原正博/著 森浩亮/著 三浦大樹/著
集合系の物理化学/役にたつ化学シリーズ 1
安保正一/編著 山本峻三/編著
もくじ情報:総論:固体表面のキャラクタリゼーション;X線回折法(XRD);X線吸収微細構造(XAFS);光電子分光法(XPS、UPS);紫外可視分光法(UV‐vis)・光ルミネセンス分光法(PLS);赤外分光法(IR)・ラマン分光法・近赤外分光法(NIR);電子スピン共鳴分光法(ESR);核磁気共鳴分光法(NMR);電子顕微鏡(SEM、TEM、STEM);走査型プローブ顕微鏡(STM、AFM);二次イオン質量分析;組成分析;吸着・脱着;昇温法(TG,DTA,TP…(続く)
もくじ情報:総論:固体表面のキャラクタリゼーション;X線回折法(XRD);X線吸収微細構造(XAFS);光電子分光法(XPS、UPS);紫外可視分光法(UV‐vis)・光ルミネセンス分光法(PLS);赤外分光法(IR)・ラマン分光法・近赤外分光法(NIR);電子スピン共鳴分光法(ESR);核磁気共鳴分光法(NMR);電子顕微鏡(SEM、TEM、STEM);走査型プローブ顕微鏡(STM、AFM);二次イオン質量分析;組成分析;吸着・脱着;昇温法(TG,DTA,TPD,TPR);電気化学測定;ケーススタディ