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出版社名:丸善出版
出版年月:2026年1月
ISBN:978-4-621-31277-3
207P 21cm
透過電子顕微鏡/表面分析技術選書
組合員価格 税込
3,971
円
(通常価格 税込 4,180円)
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内容紹介・もくじなど
もくじ情報:1 はじめに(田中信夫);2 透過電子顕微鏡の構造(森下茂幸)(序論;電子源;真空排気系;電子光学;試料ホルダー;検出器;システム制御とネットワーク);3 透過電子顕微鏡の観察法(幾原雄一)(序論;薄膜試料の作製法;明視野・暗視野像の観察;高分解能電子顕微鏡像の観察);4 走査透過電子顕微鏡の観察法(木本浩司)(走査透過電子顕微鏡法とは;それぞれのSTEM像の観察手法;空間分解能を決定する因子;観察例;シミュレーション);5 電子回折(津田健治)(結晶学の基礎的事項;回折条件と運動学的回折;回折図形の撮影と指数付け;菊池図形;不完全結晶からの回折図形;動力学的回折と異常吸収効果;収…(
続く
)
もくじ情報:1 はじめに(田中信夫);2 透過電子顕微鏡の構造(森下茂幸)(序論;電子源;真空排気系;電子光学;試料ホルダー;検出器;システム制御とネットワーク);3 透過電子顕微鏡の観察法(幾原雄一)(序論;薄膜試料の作製法;明視野・暗視野像の観察;高分解能電子顕微鏡像の観察);4 走査透過電子顕微鏡の観察法(木本浩司)(走査透過電子顕微鏡法とは;それぞれのSTEM像の観察手法;空間分解能を決定する因子;観察例;シミュレーション);5 電子回折(津田健治)(結晶学の基礎的事項;回折条件と運動学的回折;回折図形の撮影と指数付け;菊池図形;不完全結晶からの回折図形;動力学的回折と異常吸収効果;収束電子回折);6 透過電子顕微鏡による微小部分析法(渡辺万三志)(はじめに―顕微法から分光法へ;X線エネルギー分散分光法;電子線エネルギー損失分光法;分光法を用いた結像―マッピング;分光分析の空間分解能;分光分析の検出感度;おわりに)