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出版社名:講談社
出版年月:2022年3月
ISBN:978-4-06-526126-2
293P 21cm
固体表面キャラクタリゼーション 機能性材料・ナノマテリアルのためのスペクトロスコピー
山下弘巳/編著 吉田寿雄/編著 田中庸裕/編著
組合員価格 税込 3,762
(通常価格 税込 4,180円)
割引率 10%
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内容紹介・もくじなど
内容紹介:『固体表面キャラクタリゼーションの実際』の改題改訂版。好評であった旧版のコンセプトはそのままに、新しい分析法や実例を追加。
もくじ情報:総論:固体表面のキャラクタリゼーション;X線回折法(XRD);X線吸収微細構造(XAFS);光電子分光法(XPS、UPS);紫外可視分光法(UV‐vis)・光ルミネセンス分光法(PLS);赤外分光法(IR)・ラマン分光法・近赤外分光法(NIR);電子スピン共鳴分光法(ESR);核磁気共鳴分光法(NMR);電子顕微鏡(SEM、TEM、STEM);走査型プローブ顕微鏡(STM、AFM);二次イオン質量分析;組成分析;吸着・脱着;昇温法(TG,DTA,TP…(続く
内容紹介:『固体表面キャラクタリゼーションの実際』の改題改訂版。好評であった旧版のコンセプトはそのままに、新しい分析法や実例を追加。
もくじ情報:総論:固体表面のキャラクタリゼーション;X線回折法(XRD);X線吸収微細構造(XAFS);光電子分光法(XPS、UPS);紫外可視分光法(UV‐vis)・光ルミネセンス分光法(PLS);赤外分光法(IR)・ラマン分光法・近赤外分光法(NIR);電子スピン共鳴分光法(ESR);核磁気共鳴分光法(NMR);電子顕微鏡(SEM、TEM、STEM);走査型プローブ顕微鏡(STM、AFM);二次イオン質量分析;組成分析;吸着・脱着;昇温法(TG,DTA,TPD,TPR);電気化学測定;ケーススタディ
著者プロフィール
山下 弘巳(ヤマシタ ヒロミ)
博士(工学)。大阪大学大学院工学研究科マテリアル生産科学専攻教授。1987年京都大学大学院工学研究科石油化学専攻博士課程修了。東北大学非水溶液化学研究所・反応化学研究所助手、大阪府立大学大学院工学研究科助教授を経て、現職
山下 弘巳(ヤマシタ ヒロミ)
博士(工学)。大阪大学大学院工学研究科マテリアル生産科学専攻教授。1987年京都大学大学院工学研究科石油化学専攻博士課程修了。東北大学非水溶液化学研究所・反応化学研究所助手、大阪府立大学大学院工学研究科助教授を経て、現職